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詳細摘要： INF25-LP蓋板干涉儀產(chǎn)品型號：INF25-LP主要用于手機蓋板、晶體、平行平板等雙面拋光元件的透射及反射面型測試！

詳細摘要： INF60-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF60-LP平面光學(xué)元件表面面型測量

詳細摘要： INF150-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF150-LP平面光學(xué)元件的表面面型測量平面光學(xué)元件平行度測量

詳細摘要： INF450-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號：INF450-LP-WM成像質(zhì)量良好，結(jié)構(gòu)簡潔臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調(diào)諧相移解相分析系統(tǒng)

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詳細摘要： INF300V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF300V-LP測量光學(xué)平面面型精度測量光學(xué)元件的材料均勻性對干涉條紋進行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗報告

詳細摘要： INF200V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF200V-LP中大口徑光學(xué)元件平面面型精度測量對干涉條紋進行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗報告

詳細摘要： INF600-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF600-LP-WM雙端口檢測大口徑平面元件面型檢測光學(xué)材料均勻性測量元件面型分析，光學(xué)數(shù)據(jù)處理

詳細摘要： INF300H-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF300H-LP-WM測量光學(xué)平面面型精度測量光學(xué)元件的材料均勻性對干涉條紋進行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗報告

詳細摘要： INF800-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號：INF800-LP-WM成像質(zhì)量良好 臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調(diào)諧相移解相分析系統(tǒng)