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新產(chǎn)品！BeamPeek™高功率雷射束分析和功率測量系統(tǒng)BeamPeek™系統(tǒng)可以同時對(3D列印)積層製造(AM)雷射進(jìn)行光束分析、焦...

SP920s光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長，在1070nm的響應(yīng)要優(yōu)於其他所有相機(jī)

SP932U光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長

FemtoEasyMS-ROC多發(fā)式自相干儀，藉由二倍頻產(chǎn)生之技術(shù)，使得此相干儀在高穩(wěn)定量測品質(zhì)的同時也能保有極為緊湊的機(jī)身，特別適合量測sub-nJperpu...

FemtoEasyROC單發(fā)式自相干儀，有著極為緊湊且堅(jiān)固的機(jī)身，並能針對LASERsingleshot做量測，且無須另外校正，能針對不同波長、不同pulsed...

FemtoEasyµ-ROC(RowOpticalCorrelator)單發(fā)式自相干儀，有著極為緊湊且堅(jiān)固的機(jī)身，並植基於ROC的量測原理而可適用在...

狹縫掃描式光束輪廓分析儀：矽探測器，9mm毫米，5µm狹縫NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm-1100...

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：矽探測器，3.5mm狹縫，1.8µmNanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm-1...

BeamSquared®系統(tǒng)是一款緊湊型全自動工具，用於測量從紫外到近紅外直至電信波長的連續(xù)波和脈衝激光系統(tǒng)的傳播特性

Ophir寬光束成像儀配件是一種緊湊的，經(jīng)過校準(zhǔn)的光學(xué)系統(tǒng)，用於測量VCSEL，LED，邊緣發(fā)射的大光束和發(fā)散光束的尺寸和功率分佈雷射和光纖雷射

BeamWatchAM是一種整合雷射測量系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用於測量雷射增材製造系統(tǒng)的關(guān)鍵激光束參數(shù)

Pyrocam相機(jī)通過其寬帶陣列精確捕獲和分析13nm-355nm和1.06-3000µm的波長

BeamWatch是一項(xiàng)過去技術(shù)，可以量測kW以上超高功率雷射之聚焦點(diǎn)大小與焦距的新產(chǎn)品，您現(xiàn)在可以輕易且經(jīng)常性監(jiān)控您的YAG雷射或光纖雷射光束，不再需要關(guān)機(jī)或...

Pyrocam相機(jī)通過其寬帶陣列精確捕獲和分析13nm-355nm和1.06-3000µm的波長

XevaXC-130相機(jī)精確捕獲和分析900nm-1700nm的波長

SP1203相機(jī)可精確捕捉並分析900nm至1700nm的波長

SP1201相機(jī)可精確捕捉並分析900nm至1700nm的波長

LT665-1550相機(jī)精確捕獲和分析1440nm-1605nm的波長

SP907鍍磷相機(jī)精確捕獲和分析1440nm-1605nm的波長

SP928鍍磷相機(jī)精確捕獲和分析1440nm-1605nm的波長