非破壞檢驗殘存氧氣測定器 參考價：面議
非破壞檢驗殘存氧氣測定器與傳統(tǒng)的針刺測量儀不同，實現(xiàn)了激光穿透的非破壞性檢查?？梢远啻螠y量，也可以看到商品的時間變化。對產(chǎn)品損失和食物損失問題也有貢獻。
異物測定裝置 參考價：面議
異物測定裝置洗凈機引入生産使用的同時更重要的是洗凈后對于洗凈效果的判斷，因此需要引用用來判斷工件的洗凈效果的裝置。特別是機動車零件及電子零件等隊與洗凈效果的要求...
X射線無損檢測系統(tǒng) 參考價：面議
X射線無損檢測系統(tǒng)用途:鋁壓鑄零件、機械零件、電器零件、樹脂成型品等全能型(一體構造)，可檢查小型到中型鋁壓鑄零件，5軸多方向X射線透視檢查裝置。
X射線無損檢測系統(tǒng) 參考價：面議
X射線無損檢測系統(tǒng)應用封裝底板、BGA、電子元件、器件、傳感器、樹脂等是追求在現(xiàn)場的易用性的安裝基板檢查用模型。是活用了東芝的X射線感測技術的封裝基板的焊錫檢查...
晶體方位測量裝置 參考價：面議
晶體方位測量裝置用途單晶硅/晶圓的結晶方位測量，支持Si、藍寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側(cè)角機構可以高精度地測定單結晶錠和晶片的結...
晶體方位測量裝置 參考價：面議
晶體方位測量裝置用途單晶硅/晶圓的結晶方位測量，支持Si、藍寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側(cè)角機構可以高精度地測定單結晶錠和晶片的結...
晶體方位測量裝置 參考價：面議
晶體方位測量裝置用途單晶硅/晶圓的結晶方位測量，支持Si、藍寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側(cè)角機構可以高精度地測定單結晶錠和晶片的結...
非破壞檢測系統(tǒng) 參考價：面議
非破壞檢測系統(tǒng)是一種能分析小型精密零件、電子零件等內(nèi)部狀況的微聚焦X射線檢查裝置。用于電路板、電子器件、小型連接器、車載用小型電子部件等。
非破壞檢測系統(tǒng) 參考價：面議
非破壞檢測系統(tǒng)是一種能分析小型精密零件、電子零件等內(nèi)部狀況的微聚焦X射線檢查裝置。用于電路板、電子器件、小型連接器、車載用小型電子部件等。
非破壞檢測系統(tǒng) 參考價：面議
非破壞檢測系統(tǒng)用途:小型電子元件、模制品、樹脂、GFRP、CFRP、纖維等這是一種緊湊的高性能微型CT，采用高靈敏度的X射線檢測器，可對低吸收(比重小)的物體進...
非破壞檢測系統(tǒng) 參考價：面議
非破壞檢測系統(tǒng)用途:小型電子元件、模制品、樹脂、GFRP、CFRP、纖維等這是一種緊湊的高性能微型CT，采用高靈敏度的X射線檢測器，可對低吸收(比重小)的物體進...
非破壞檢測系統(tǒng) 參考價：面議
非破壞檢測系統(tǒng)通過為每一種X射線發(fā)生器搭配合適的檢測器，230kv模型能夠捕獲更多的軟X射線，以高對比度實現(xiàn)令人驚嘆的高畫質(zhì)，300kv模型提高了高能量區(qū)域的穿...
非破壞檢測系統(tǒng) 參考價：面議
非破壞檢測系統(tǒng)通過為每一種X射線發(fā)生器搭配合適的檢測器，230kv模型能夠捕獲更多的軟X射線，以高對比度實現(xiàn)令人驚嘆的高畫質(zhì)，300kv模型提高了高能量區(qū)域的穿...
非破壞檢測系統(tǒng) 參考價：面議
非破壞檢測系統(tǒng)450kv高能CT掃描儀通過最高管電壓450kv的高能X射線產(chǎn)生裝置，可以對大型部件和X射線透射嚴格的重金屬產(chǎn)品進行CT拍攝。
非破壞檢測系統(tǒng) 參考價：面議
非破壞檢測系統(tǒng)450kv高能CT掃描儀通過最高管電壓450kv的高能X射線產(chǎn)生裝置，可以對大型部件和X射線透射嚴格的重金屬產(chǎn)品進行CT拍攝。
