基于蔡司METROTOM 的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）

蔡司三維X射線機(jī)(工業(yè)CT)ZEISS METROTOM利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，

僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測(cè)、精細(xì)工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。

配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對(duì)準(zhǔn)確性的高要求。

看得較多

在第三代系統(tǒng)中，新的3k檢測(cè) 器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集，即更多體素可以檢測(cè)到更小的缺 陷。

掃描提快

通過(guò)檢測(cè) 器的不同操作模式，掃描時(shí)間可減少多達(dá)75％，同時(shí)獲得與2k檢測(cè) 器相當(dāng)?shù)捏w素尺寸。

測(cè)量與檢驗(yàn)整體部件

蔡司METROTOM是一種工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，用于測(cè)量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。

而在利用傳統(tǒng)測(cè)量機(jī)測(cè)量時(shí)，此類(lèi)隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過(guò)費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。