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光學(xué)薄膜厚儀Delta系列 詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品特點(diǎn)白光干涉測厚儀TF200-XNIR產(chǎn)品特點(diǎn)快速、準(zhǔn)確、無損、靈活、易用、性價比高半導(dǎo)體（SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2021-12-10 參考價： 面議 在線留言
| 上海鑫天精密儀器有限公司 |
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品特點(diǎn)白光干涉測厚儀TF200-XNIR產(chǎn)品特點(diǎn)快速、準(zhǔn)確、無損、靈活、易用、性價比高半導(dǎo)體（SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS
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