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詳細(xì)摘要： 表面光學(xué)三維輪廓測(cè)量?jī)x不僅可用于硅晶片、光學(xué)透鏡、窗口片、藍(lán)寶石表鏡、手機(jī)屏等表面粗糙度檢測(cè)儀，還可對(duì)LED襯底、紅外觀察窗口、超精密工件、微機(jī)電系統(tǒng)等進(jìn)行超精...

詳細(xì)摘要： 中圖儀器3D顯微形貌粗糙度光學(xué)輪廓儀針對(duì)完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時(shí)滿足的高精度、大掃描范圍的需求，其復(fù)合型EPSI重建算法，解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范...

詳細(xì)摘要： SuperViewW1光學(xué)粗糙度輪廓檢測(cè)儀讓輪廓測(cè)量?jī)r(jià)格更為實(shí)惠，分辨率0.1μm，重復(fù)性0.1%，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡(jiǎn)便，可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面...

詳細(xì)摘要： SuperViewW1光學(xué)三維表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)...

詳細(xì)摘要： SuperViewW1光學(xué)3D表面輪廓儀對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形...

詳細(xì)摘要： SuperViewW1光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x讓輪廓測(cè)量?jī)r(jià)格變實(shí)惠，適用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙間隙、磨損情況、腐蝕情況、波紋度、臺(tái)階高度、表面缺...

詳細(xì)摘要： 中圖3D輪廓測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理，主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量，通過(guò)利用接觸式及非接觸式雙模式基于技術(shù)上的優(yōu)勢(shì)獲得獲得全面的表面特性。...

詳細(xì)摘要： 中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的SuperView W1光學(xué)三維輪廓儀，分辨率0.1μm，重復(fù)性0.1%，應(yīng)用域廣泛，操作簡(jiǎn)便，可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪...