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技術(shù)文章

微型零件的一鍵測(cè)量趨勢(shì)

閱讀:257          發(fā)布時(shí)間:2022-9-20

圖像測(cè)量?jī)x技術(shù)作為視覺檢測(cè)技術(shù)中需要實(shí)現(xiàn)幾何尺寸測(cè)量的一類,測(cè)量精度和測(cè)量效率一直是該技術(shù)追求的重要指標(biāo)。圖像測(cè)量?jī)x系統(tǒng)通常使用CCD(ChargeCoupleddevice)等圖像傳感器件獲取圖像信息,將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并收集到計(jì)算機(jī)中,然后使用圖像處理技術(shù)處理數(shù)字圖像信號(hào),獲取所需的各種圖像信息,最后使用校準(zhǔn)技術(shù)將圖像坐標(biāo)系中的圖像尺寸信息轉(zhuǎn)換為實(shí)際尺寸信息,實(shí)現(xiàn)尺寸和位置誤差的計(jì)算。

近年來,由于工業(yè)生產(chǎn)能力的快速發(fā)展和加工工藝水平的提高,需要嚴(yán)格控制產(chǎn)品的大尺寸、小尺寸和形狀公差,以實(shí)現(xiàn)裝配、運(yùn)動(dòng)和成本的有效控制。例如,大型機(jī)械關(guān)鍵部件的測(cè)量、3C產(chǎn)品組的形狀尺寸以及各種設(shè)備在微型趨勢(shì)中廣泛使用的微部件、微電子技術(shù)和生物技術(shù)中關(guān)鍵微尺寸的測(cè)量都為測(cè)量技術(shù)帶來了新的任務(wù)。圖像測(cè)量?jī)x技術(shù)具有更廣泛的測(cè)量范圍。傳統(tǒng)的機(jī)械測(cè)量很難在較大或較小的范圍內(nèi)使用,圖像測(cè)量?jī)x技術(shù)可以根據(jù)精度要求縮小或放大一定比例的測(cè)量對(duì)象,從而完成一些機(jī)械測(cè)量無法完成的測(cè)量任務(wù)。因此,圖像測(cè)量?jī)x技術(shù)的重要作用是顯而易見的,無論是測(cè)量大尺寸、小尺寸和復(fù)雜的形位公差。

一般來說,我們稱尺寸范圍為0.1mm~10mm的零件為微型零件,即國(guó)際上定義為Meso尺度的零件。這些零件的精度要求相對(duì)較高,一般在微米等級(jí),結(jié)構(gòu)復(fù)雜,控制尺寸多,傳統(tǒng)的檢測(cè)手段難以滿足測(cè)量需求。圖像測(cè)量?jī)x系統(tǒng)已成為當(dāng)前微部件測(cè)量的常用手段,首先,我們應(yīng)該通過光學(xué)鏡頭成像匹配的圖像傳感器上的測(cè)量部件尺寸特征,以獲得包含測(cè)量目標(biāo)信息的圖像,并通過圖像收集卡收集到計(jì)算機(jī),最后通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理和計(jì)算,以獲得測(cè)量結(jié)果。微部件領(lǐng)域的圖像測(cè)量?jī)x技術(shù)主要有以下發(fā)展趨勢(shì):

1.進(jìn)一步提高測(cè)量精度。隨著工業(yè)水平的不斷提高,對(duì)微部件的精度要求將進(jìn)一步提高,對(duì)圖像測(cè)量?jī)x技術(shù)的測(cè)量精度和圖像處理也提出了更高的要求。同時(shí),隨著圖像傳感器的快速發(fā)展,高分辨率器件也為系統(tǒng)精度的提高創(chuàng)造了條件。

2.提高測(cè)量效率。微零件在工業(yè)中的應(yīng)用正在成為幾何級(jí)別的增長(zhǎng)。繁重的測(cè)量任務(wù)和在線測(cè)量的生產(chǎn)模式都需要高效的測(cè)量手段。隨著計(jì)算機(jī)等硬件能力的提高和圖像處理算法的不斷智能化,圖像測(cè)量?jī)x系統(tǒng)的精度和效率將得到提高。

3.實(shí)現(xiàn)微部件從點(diǎn)測(cè)量模式向整體測(cè)量模式的過渡。由于微部件控制產(chǎn)品數(shù)量和尺寸的增加,逐個(gè)尺寸的測(cè)量過程不再能夠滿足測(cè)量效率。一鍵測(cè)量整個(gè)輪廓或整體特征是當(dāng)今微部件測(cè)量的需要。隨著測(cè)量精度的提高,獲取完整圖像并實(shí)現(xiàn)整體形狀誤差的高精度測(cè)量將應(yīng)用于越來越多的領(lǐng)域。

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簡(jiǎn)而言之,在微零件測(cè)量領(lǐng)域,圖像測(cè)量?jī)x技術(shù)實(shí)現(xiàn)了高精度,一鍵高效將不可避免地成為精密測(cè)量技術(shù)的重要發(fā)展方向。因此,對(duì)硬件系統(tǒng)、圖像質(zhì)量、圖像邊緣定位、系統(tǒng)校準(zhǔn)等環(huán)節(jié)提出了更高的要求,具有廣泛的應(yīng)用前景和重要的研究意義。因此,一鍵測(cè)量已成為國(guó)內(nèi)外研究的熱點(diǎn),也是視覺檢測(cè)技術(shù)的主要應(yīng)用之一。

 

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