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詳細介紹
- 結構精密、堅固耐用、質量控制可靠的桌上型X射線螢光光譜儀，可以進行精密快速的鍍層厚度測量和材料分析。
- X-Strata系列能夠檢測極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等..)和其它薄鍍層
- 無標準校準: Oxford支持使用標準以解決順應性和系統優(yōu)化問題
- 超大樣品臺，便於大面積樣品測量，例如印刷電路板
- 包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層
- 5層/15種元素/普通元素校正
- 同時為多達15種元素進行成份分析
- 定性光譜分析元素ID，同時查看和比較多達四個光譜
- 高速探測器信號處理電子設備，具有峰值位移校正功能
- 光譜計數速率峰值位移校正
- 系統自動調整和校正: 校正X射線導管、探測器和電子設備的變化
- 準直器: 多個(最多6個)可編程、圓形、矩形(我們將幫您選擇適用的準直器)
- 探測器過濾器: 最多3個、5個位置，可編程-馬達驅動: 提供釩、鐵、錫和其它元素
- 自動測量重複功能
- 安全機制: 多用戶多級密碼保護
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