蔡司三坐標(biāo)METROTOM

型號(hào)：

規(guī)格：

應(yīng)用范圍：基于蔡司三坐標(biāo)METROTOM 的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測(cè)、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對(duì)精確性的高要求。

第三代新款蔡司三坐標(biāo)METROTOM 1500

蔡司三坐標(biāo)METROTOM：面向未來(lái)的質(zhì)量控制——今天

十二年來(lái)，蔡司三坐標(biāo)METROTOM系列一直為質(zhì)量控制提供可靠的CT技術(shù)。第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）系統(tǒng)蔡司三坐標(biāo)METROTOM 1500地證明了*可靠的X射線技術(shù)不再是未來(lái)的愿景。今天，您可以使用面向未來(lái)的質(zhì)量控制。

看得更多。

蔡司三坐標(biāo)METROTOM：在第三代系統(tǒng)中，新的3k檢測(cè)器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集，即更多體素可以檢測(cè)到更小的缺陷。

蔡司三坐標(biāo)METROTOM 1500（第2代與第3代）中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小，新的3K檢測(cè)器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細(xì)節(jié)。

掃描更快。

蔡司三坐標(biāo)METROTOM：通過檢測(cè)器的不同操作模式，掃描時(shí)間可減少多達(dá)75％，同時(shí)獲得與2k檢測(cè)器相當(dāng)?shù)捏w素尺寸。